TY  - BOOK
AU  - Emons,Hans-Heinz
AU  - Heydenreich,Johannes
TI  - Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung
T2  - Sitzungsberichte der Akademie der Wissenschaften der DDR / N. Mathematik, Naturwissenschaften, Technik
SN  - 9783112548479
PY  - 2022///]
CY  - Berlin, Boston : 
PB  - De Gruyter, 
KW  - SCIENCE / Research & Methodology
KW  - bisacsh
N1  - Frontmatter --; 1. Einführung --; 2a. Elementanalyse in Nanometerbereichen: EDS --; 2b. Elementanalyse in Nanometerhereichen: EELS --; 3. Gitterstrukturnachweis durch Mikrobeugung --; 4. Morphologische und strukturelle Charakterisierung durch hochauflösende Abbildung --; 5. Zusammenfassung --; Literatur --; Backmatter; restricted access; Issued also in print
UR  - https://doi.org/10.1515/9783112548486
UR  - https://www.degruyter.com/isbn/9783112548486
UR  - https://www.degruyter.com/document/cover/isbn/9783112548486/original
ER  -