TY  - BOOK
AU  - Anders,Rolf
TI  - Halbleitermesstechnik
SN  - 9783112593837
PY  - 2022///]
CY  - Berlin, Boston : 
PB  - De Gruyter, 
KW  - Technology & Engineering / Electronics / Semiconductors
KW  - bisacsh
N1  - Frontmatter --; Vorwort --; Inhaltsverzeichnis --; 1. Einleitung --; 2. Messungen an Transistoren --; 3. Allgemeine Meßverfahren zur Bestimmung von Diodenkenndaten --; 4. Messungen an Tunneldioden --; 5. Messungen an Kapazitätsdioden --; 6. Messungen an Vierschichtdioden --; 7. Messungen an Thyristoren --; 8. Thermische Messungen an Transistoren und Dioden --; 9. Messungen an photoelektrischen Halbleitern --; 10. Messungen an Halbleiterwiderständen --; 11. Zuverlässigkeitsuntersuchungen an Halbleitern --; Literatur --; Sachverzeichnis --; Backmatter; restricted access
UR  - https://doi.org/10.1515/9783112593844
UR  - https://www.degruyter.com/isbn/9783112593844
UR  - https://www.degruyter.com/document/cover/isbn/9783112593844/original
ER  -