TY - BOOK AU - Adam,J. AU - Amel-Zadeh,A. AU - Amthauer,G. AU - Andreeff,A. AU - Bernhard,F. AU - Bohm,J. AU - Brown,G.H. AU - Brückner,W. AU - Brühl,H.-G. AU - Cracknell,A.P. AU - Danev,G. AU - Depmeier,W. AU - Doane,J.W. AU - Doerschel,J. AU - Donnay,G. AU - Donnay,J.D.H. AU - Drasko,Grujic AU - Däweritz,L. AU - Ehrenreich,H. AU - Fischer,P. AU - Flörke,O.W. AU - Frenzel,M. AU - Fricke,P. AU - Fritzsch,E. AU - Frölich,F. AU - Gebhardt,M. AU - Givargizov,E.I. AU - Godard,J. AU - Gutzow,I. AU - Hartmann,P. AU - Hase,W. AU - Heinze,J. AU - Heydenreich,J. AU - Hummel,R.E. AU - Iwanov,D. AU - Jegerlehner,K. AU - Jost,K.H. AU - Kaischew,R. AU - Kaner,E.A. AU - Kleber,W AU - Klebert,W. AU - Klein,N. AU - Kostov,I. AU - Kühn,G. AU - Laudise,R.A. AU - Liebau,F. AU - Lösche,A. AU - Messerschmidt,A. AU - Mietz,I. AU - Mohr,U. AU - Muschner,W. AU - Männel,Chr AU - Müller-Jahreis,U. AU - Nanev,Chr AU - Neels,H. AU - Neff,V.D. AU - Neuhaus,A. AU - Neumann,H. AU - Pietzsch,C. AU - Pollak,M. AU - Pupke,H. AU - Saalfeld,H. AU - Sackmann,H. AU - Schenk,M. AU - Schmidt,W. AU - Schubert,G. AU - Schulze,G.E.R. AU - Seitz,F. AU - Sheftal,N.N. AU - Skobov,V.G. AU - Sprenger,H. AU - Stepanova,A.N. AU - Stoyanov,S. AU - Stoycheva,R. AU - Stähr,S. AU - Tannhauser,D.S. AU - Toschev,S. AU - Turnbull,D. AU - Ullner,Ch AU - Ullrich,H.-J. AU - Voigt,R. AU - Wilke,K.-Th AU - Wäsch,E. TI - Kristall und Technik: [Fortsetzung: Crystal Research and Technology] T2 - Kristall und Technik SN - 9783112653296 AV - QD901 .K757 1972 U1 - 500 PY - 2022///] CY - Berlin, Boston PB - De Gruyter KW - Crystallography KW - Periodicals KW - Kristallchemie KW - Kristallographie KW - Kristallwachstum KW - Röntgenbeugung KW - Spektroskopie KW - Struktuanalyse KW - kristalline Materialien KW - physikalische Chemie KW - SCIENCE / Chemistry / Industrial & Technical KW - bisacsh N1 - Frontmatter --; Hinweise für die Autoren --; Inhalt --; Vorwort --; Originalbeiträge --; Haidingerite (I). From Crystal Morphology to Bond Assemblage --; Haidingerite (II). From Valence Summation to Hydrogen Bonding --; Structural Morphology of Crystals with the K2CUCl4 - 2 H2O Structure Type --; The Structural Patterns of Crystal Faces and Crystal Growth --; Morphology of Germanium Whiskers --; Nichtstationäre Keimbildung: Theorie und Experiment --; On the Distribution of Impurities during Crystal Growth --; Evaporation of Zinc Single Crystals --; Beiträge zum Ätzen von Galliumarsenid (II) Zur Kinetik der Auflösung von GaAs --; Clusterbildung — ein stochastischer Prozeß --; Der Einfluß der kritischen Clustergröße auf die Clustergrößenverteilung und die Clusterdichte --; Ein Beitrag zur Erzeugung dünner orientierter Antimonfilme auf Einkristallsubstraten durch Hochvakuumkondensation --; The Influence of ASCl3 Impurity on Growth Mechanism and Structure Perfection of Autoepitaxial Germanium Films --; Phasen und Epitaxien in gasnitrierten polykristallinen Fe-Blechen und einkristallinen Fe-Folien --; Transport and Deposition of SiO2 with H2O under Supercritical Conditions --; Wahrscheinlichkeit der Zwillingsbildung in dünnen Schichten von Halbleitersubstanzen mit Diamant- und Zinkblendestruktur --; Epitaxie von Platin auf Strontiumbariumniobat --; Die Kombination der Schwingquarzmethode mit Energieverlustmessungen leichter Ionen zum Nachweis von Adsorptionsschichten an extrem dünnen freitragenden Folien --; Einkristallzüchtung von Titandioxid durch chemische Transportreaktion --; Einkristallzüchtung und Versetzungsätzung von Antimon und antimonreichen Antimon-Wismut-Legierungen --; Röntgenographische Mikrobeugungsuntersuchungen an kristallinen Festkörpern mittels Gitterquelleninterferenzen (Kossel-Linien) und Weitwinkelinterferenzen (Pseudo-Kossel-Linien) --; The Crystal Structure of Ca[Zn2(OH)6] - 2 H2O — a Retarder in the Setting of Portland Cement --; Silicon-Free Compounds with Sodalite Structure --; Die Bestimmung der intrakristallinen Magnesium - Eisen-Verteilung in Orthopyroxenen mit röntgenstrukturanalytischen Mitteln --; Spin Pairing in Spinel-Type Minerals of Iron (II) and Corresponding Phases --; Reflexionselektronenbeugungsuntersuchungen an HV-aufgedampften CdSe-Schichten auf CaF2 --; Ein Beitrag zur Lokalisierung von Maskierungs- und Passivierungsfehlern von Deckschichten auf Silizium --; Ein Beitrag zur lichtoptischen Orientierungsbestimmung von Galliumphosphid-Einkristallen --; Bestimmung der Scheibenorientierung und Schichtdicke an epitaktischen Siliziumschichten auf Silizium --; Röntgentopographie von gekrümmten Halbleiterscheiben --; Setting of Crystals on the Precession Camera --; Kernphysikalische Methoden in der Kristallographie und Festkörperphysik --; Untersuchung des Arbeitsprozesses bei elektronenmikroskopischen Arbeiten durch eine Multimoment-Häufigkeitsanalyse --; Mikroanalyse mit kombinierten spektroskopischen Methoden in der Kriminaltechnik --; Buchbesprechung --; Einführung in die Kristallographie --; Kurze Originalmitteilungen --; Neutronographische Untersuchungen an Chromeisenstein nach mechanischer Aktivierung --; Lattice constants of Al0.8 Ga0.2As between -110 °C and +90 °C --; The Melting Point of Silver Bromide The Melting Point of Silver Bromide --; Preparation of Singe Crystals of (N H4)2 SO4 --; Buchbesprechungen --; Solid State Physics --; The Growth of Single Crystals --; A Review of the Structure and Physical Properties of Liquid Crystals --; Elementare Prozesse in Gasen und in Grenzschichten --; The Fermi Surfaces of Metals --; Conduction in Low-Mobility Materials --; Plasma Effects in Metals: Helicon and Alfvén Waves --; Strukturdaten der Elemente und intermetallischen Phasen --; Optische Eigenschaften von Metallen und Legierungen; restricted access; Issued also in print UR - https://doi.org/10.1515/9783112653302 UR - https://www.degruyter.com/isbn/9783112653302 UR - https://www.degruyter.com/document/cover/isbn/9783112653302/original ER -