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TI  - Kristall und Technik: [Fortsetzung: Crystal Research and Technology]
T2  - Kristall und Technik
SN  - 9783112653838
U1  - 500 
PY  - 2022///]
CY  - Berlin, Boston
PB  - De Gruyter
KW  - Kristallchemie
KW  - Kristallographie
KW  - Kristallwachstum
KW  - Röntgenbeugung
KW  - Spektroskopie
KW  - Struktuanalyse
KW  - kristalline Materialien
KW  - physikalische Chemie
KW  - SCIENCE / Chemistry / Industrial & Technical
KW  - bisacsh
N1  - Frontmatter --; Hinweise für die Autoren --; Inhalt --; Originalbeiträge --; Effect of Growth Conditions on Formation and Properties of CdS Single Crystals at Dynamic Sublimation --; Zur Struktur von organischen Mischkristallschichten --; Autoradiographic Investigation on the Incorporation of Ca Ions in KCl Crystals during Kyropoulos Growth --; Untersuchung der linearen Kristallisationsgeschwindigkeit --; X-Ray Topographic Investigation of Silicon Single Crystals Heavily Doped with Sb --; X-Ray Topographic Investigation of Dendritic Silicon Crystals --; Ein röntgendiffraktometrisches Verfahren zur Korngrößenbestimmung --; Recommended Symbols for Industrial Crystallisation --; Buchbesprechungen --; Electron Microscopy and Structure of Materials --; Electron Optics and Electron Microscopy --; Theoretische Grundlagen der allgemeinen Kristalldiagnose im durchfallenden Licht --; Early Papers on Diffraction of X-rays by Crystals; restricted access; Issued also in print
UR  - https://doi.org/10.1515/9783112653845
UR  - https://www.degruyter.com/isbn/9783112653845
UR  - https://www.degruyter.com/document/cover/isbn/9783112653845/original
ER  -