Optik aller Wellenlängen : Tagung der Physikalischen Gesellschaft in der Deutschen Demokratischen Republik, 2.–5. Nov. 1958 in Jena / hrsg. von Paul Görlich, R. Tiedecken.
Material type:
- 9783112563496
- 9783112563502
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Frontmatter -- INHALTSVERZEICHNIS -- 1. Grundlagen -- Über eine Verallgemeinerung der Schhödinger- Gleichung der Wellenmechanik -- Ottica, fìsica e ottica fìsica -- 2. Halbleiter -- Optische Eigenschaften und Photoleitung von Kadmiumsulfid -- Photochemische Reaktionen und Lebensdauer von Photozellen -- Einige Untersuchungen über die Ermüdung und Temperaturabhängigkeit von Photoelementen -- 3. Spektroskopie -- Über die spektroskopische Methode zur quantitativen Bestimmung von 15N in Stickstoff -- Über die Spektren des Li II und Li III -- Verfahren zur interferometrischen Analyse von Dreistoffgemischen -- Beobachtung magnetischer Kernresonanzen in Emission -- Paramagnetische Elektronenresonanz in Mn-dotiertem Flußspat -- Die Untersuchung eines Organophosphors in vorerregtem Zustand -- 4. Spektralapparate -- Über Gitterfehler bei Reflexionsgittern -- Über die unvermeidlichen Fehler bei der Registrierung von Spektren -- Оптимальные условия регистрации спектров поглощения -- Experimentelle Untersuchungen über das Leistungsvermögen von Prismen-Monoehromatoren -- Streulichtbestimmungen in Prismenmonochromatoren -- Ein Vakuumgitterspektrometer für das ferne Infrarot -- Über einige Probleme beim Bau eines Vakuumspektrographen -- Der neue Plangitterspektrograph des VEB Carl Zeiss JENA -- 5. Physiologische Optik -- Über den gegenwärtigen Stand der physiologischen Optik -- Ist die Forschung in der biologischen Optik noch heute aktuell? -- tlber Brillengläser mit gleitender Dioptrienzahl -- 6. Beugungstheorie -- La diffusion résiduelle des surfaces polies -- Zur Beugungstheorie der Bildfehler -- Bisphärische Flächen als Korrektionsmittel in der photographischen Optik -- 7. Geometrische Optik -- Untersuchungen über ßrechzahltoleranzen bei einem beliebigen k-flächigen optischen System -- Die Verzeichnung in der Photogrammetrie -- Über den Einfluß von Herstellungsfehlern auf die Verzeichnung und die Kompensationsmöglichkeiten -- Über die praktische Ermittlung der photogrammetrischen Verzeichnung an Überweitwinkelobjektiven im endlichen Abbildungsbereich -- Über die Deformation des LITTROW-Spiegels zur Verringerung des Astigmatismus -- 8. Mikroskopie -- Über eine Gruppe von Mikroskop-Spiegelobjektiven mit Zentralabschattungen verschiedener Größe -- Weiterentwicklung des lichtoptischen Mikroskops -- Über die Methoden der Mikroskopie mit Röntgenstrahlen -- Über ein Röntgenschattenmikroskop -- Über einige methodische Fortschritte bei der Photometrie strukturierter mikroskopischer Präparate -- 9. Objektiv-Prüfung -- Aberration Tolerances -- Die Prüfung optischer Systeme mit Hilfe der Kontrastübertragungsfunktion -- Kontrastübertragungsfunktionen vom experimentellen und praktischen Gesichtspunkt -- Messung der Kontrastübertragungsfunktion und Vergleich mit der geometrisch-optischen Korrektion -- Überblick über die Bedeutung verschiedener Objektivprüfmethoden für den Betrieb -- Untersuchungen über die Intensitätsverteilung im Bild von Objektpunkten und Gittern verschiedener Gitterkonstanten -- Quantitative Bestimmung der Abbildungsfehler photographischer Objektive mit Hilfe von TWYMAX-Interferomotern -- Verwendung von Rastern zur Objektivprüfung -- Vergleichende Untersuchungen über verschiedene Verfahren der Äquidensitometrie -- Isogradientverfahren zur Auswertung des photographischen Bildes -- 10. Spezialfragen der technischen Optik und Randgebiete -- Photomechanische Effekte -- Quantitative Messungen von Schlieren in Gläsern -- Interferenzielle Prüfung der Ebenheit von langen Führungsbahnen -- Über einige neuere Probleme der Grenzflächenoptik absorbierender Medien -- Zwei Geräte zur Mikrospektrometrie mit Spektralphotometern -- Einige Bemerkungen über die Konstruktion von Beleuchtungssystemen und die Beurteilung ihres Wirkungsgrades auf Grund der Konstruktion -- Schwingungen aller Wellenlängen des Erdkörpers
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